半导体FT测试二:OS(continue)测试(IO PIN和POWER PIN)
首先为什么要进行OS测试?
答:OS测试也叫open 和short 测试
再问和谁open有和谁short呢?
答:FT 芯片 待测 PIN 和内部逻辑open ,造成这种问题出现环节为CP封装成FT(我们可在PCB板子上使用的IC)造成。short 为 PIN TO PIN 的short,问题出现点同上
那麽我们应该怎么测试OS呢?
首先了解我们测试的目标是什么,这样才能寻找测试方法。如下图所示
其中外界资源也就是半导体测试所说的PMU或者DPS,IC锡球为 Bond Pad
注意:接下来提到电流的方向从输出测试设备为正,输入测试设备为负。即输入待测物为正,输 出待测物为负
明确待测物接下来就是测试方法了
1. 普通IO PIN 的OS测试
普通IO 通常上管下管都存在,但是有少部分没有上管
上管测试如下图所示
测试步骤:
- VDD force 0V 或者电源接地。如果使用万用表寻找上管存在则二极管档位黑表笔接VDD。
- 外部电源设置clamp电压、 Force 100uA 电流到芯片测试PIN。如果使用万用表寻找上管存在则二极管档位红表笔接测试PIN。
- 测量测试PIN到VDD的压降。读数为0.3-0.7V为正常,0V则上管与VDD short,如果读数为clamp电压/万用表显示OL则为开路,此时要换芯片检查二极管是否真的存在。
说明:这里的100uA电流是业界测试保护二极管常用数值。不排除还有其他方法测试二极管,如FVMV
下管测试
下管测试相对简单
- 外部电源 设置clamp电压、 Force -100uA 电流到芯片测试PIN。如果使用万用表寻找下管存在则二极管档位红表笔接GND。
- 如果使用万用表寻找下管存在则二极管档位黑表笔 待测PIN。
- 测量测试PIN到GND的压降。读数为-0.3—— -0.7V为正常,0V则上管与GND short,如果读数为clamp电压/万用表显示OL则为开路,此时要换芯片检查二极管是否真的存在。
2. Power PIN的 OS 测试
电源PIN 则只有下管
测试方法 也可使用FVMV测试方式(Force 负压)
- 其他IO PIN置0V,如果使用万用表量则其他角浮接即可。
- 外部电源设置clamp电压、 Force -100uA 电流到芯片测试PIN。如果使用万用表寻找下管存在则二极管档位红表笔接GND
- 如果使用万用表寻找下管存在则二极管档位黑表笔 待测PIN
- 测量测试PIN到GND的压降。读数为-0.3—— -0.7V为正常,0V则上管与GND short,如果读数为clamp电压/万用表显示OL则为开路。
综上,测的电压绝对值在0.3-0.7V之间,具体电压是多少和制程有关。
那么有人问,我万用表测出来来就是0.7V左右啊! 我想说,万用表测试没办法控制流经二极管的电流。虽然二极管伏安特性曲线不是线性,但是二极管电压与电流是正相关的。
那么怎么得出 PIN 与 PIN 的 short 呢?
当测试IO PIN 时候 测A的同时把其他PIN 置0V。
判断:当我们读出0V压降时候意味着PIN A与其他 PIN有 short情况,单独具体是哪一个PIN没有办法立即判断。
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