一种光模块APD保护装置及保护方法与流程

本发明涉及光通信技术领域，特别是涉及一种光模块apd保护装置及保护方法。

背景技术：

在长距离通信时，使用的光模块具有发射光功率大，接收灵敏度高的特点。光模块的接收端在采用雪崩光电二极管apd(avalanchephotodiode，apd)工作时需要加反向高压，apd工作在高压环境，且增益较大，apd电流会随着输入光功率的变化而变化；当输入光功率越大，其apd电流越大；但当输入光功率超出apd工作范围后，其apd会因为电流过大而可能烧毁。因而，在apd的使用中需要加以保护。

在实际工程使用中，例如在工程施工时，容易在误操作的情况下，输入一个过大的大光，而烧坏apd；对于光线路终端olt(opticallineterminal，olt)类的带有突发时序的产品，要求快速响应而进行保护apd，其接收的信号强度指示rssi(receivedsignalstrengthindication，rssi)等监控为突发时序的状态，传统靠rssi监控等来进行apd大光保护响应的方式在此情景下无法使用。常规apd保护电路方式为直接rssi中获取数据，来进行判断处理，但是由于olt是突发接收的特殊性，其rssi需要由系统级发送一个触发triger信号后进行对光模块内电容充电，而最终获取rssi值。而rssi触发triger信号并不是随时都在发送，即rssi不是实时值，这样导致可能apd收到了大光，而不能及时对它进行保护，所以olt的rssi不能直接用于apd的保护。

同时，虽然现有的电流镜像芯片，均号称可以实现电流限制，但其数据表中描述的电流限制是一个范围，且其范围很大，这样导致其不同的电流镜像芯片保护能力不同，不一定适合对应的光模块apd。

鉴于此，克服该现有技术所存在的缺陷是本技术领域亟待解决的问题。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题是：解决现有光模块输入光功率超出apd工作范围后，apd会因为电流过大而烧毁的问题。

本发明采用如下技术方案：

第一方面，本发明提供了一种光模块apd保护装置，包括：apd升压电路10、电流镜像电路20、比较器30和处理器40；

所述apd升压电路10的输出端连接所述电流镜像电路20的输入端，所述电流镜像电路20的输出端分别连接apd的输入端和所述比较器30的第一输入端，所述比较器30的输出端连接所述处理器40的输入端，所述处理器40的输出端分别连接所述apd升压电路10、所述电流镜像电路20和所述比较器30的第二输入端；

其中，所述电流镜像电路20用于向所述比较器30的第一输入端输入apd监控电流，所述处理器40用于在所述比较器30第二输入端设置apd电流阈值，如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，则所述比较器30触发所述处理器40控制所述apd升压电路10关闭，或控制所述电流镜像电路20停止输出apd电压给所述apd。

优选的，所述处理器40的输出端分别连接所述apd升压电路10、所述电流镜像电路20和所述比较器30的第二输入端，具体包括：

所述处理器40第一输出端连接所述apd升压电路10的使能功能管脚，用于控制所述apd升压电路10的关闭或开启；

所述处理器40的第二输出端连接所述apd升压电路10的电压设置管脚，用于设置所述apd升压电路10输出所述apd所需要的电压；

所述处理器40的第三输出端连接所述电流镜像电路20的钳位控制管脚，用于控制所述电流镜像电路20输出或停止输出apd电压给所述apd；

所述处理器40的第四输出端连接所述比较器30的第二输入端，用于在所述比较器30第二输入端设置所述apd电流阈值。

优选的，如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，则所述比较器30触发所述处理器40控制所述apd升压电路10关闭，或控制所述电流镜像电路20停止输出apd电压给所述apd，具体包括：

如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，所述比较器30输出触发信号给所述处理器40，触发所述处理器40通过所述第一输出端输出关闭信号，控制所述apd升压电路10关闭；或

触发所述处理器40通过所述第三输出端输出停止输出信号，控制所述电流镜像电路20停止输出apd电压给所述apd。

优选的，所述光模块apd保护装置还包括：采样保持电路50；

所述采样保持电路50与所述电流镜像电路20的输出端连接，用于对接收的信号强度指示rssi采样。

优选的，所述比较器30的第二输入端和输出端之间设置有电阻，所述比较器30和所述电阻组成迟滞比较器，用于防止所述迟滞比较器的输出电压来回跳动。

第二方面，本发明提供了一种光模块apd保护方法，应用于如第一方面任一所述的光模块apd保护装置，其特征在于，

接收输入比较器第一输入端的apd监控电流；

将所述apd监控电流和设置在比较器第二输入端的apd电流阈值进行比较；

如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，则所述比较器触发所述处理器控制所述apd升压电路关闭，或控制所述电流镜像电路停止输出apd电压给所述apd。

优选的，所述如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，则所述比较器触发所述处理器控制所述apd升压电路关闭，或控制所述电流镜像电路停止输出apd电压给所述apd，具体包括：

如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，所述处理器的输入端获取到有上升沿，锁存所述处理器的输入端状态到高电平，并通过所述apd升压电路的使能功能管脚控制所述apd升压电路关闭；或，

所述处理器通过所述电流镜像电路的钳位控制管脚，控制所述电流镜像电路停止输出apd电压给所述apd。

优选的，所述如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，则所述比较器触发所述处理器控制所述apd升压电路关闭，或控制所述电流镜像电路停止输出apd电压给所述apd，具体包括：

如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，所述处理器的输入端获取到有上升沿，多次采样所述处理器输入端的输入电平，如果所述处理器输入端的所述输入电平大于预设阈值的数量超过预定比例，通过所述apd升压电路的使能功能管脚控制所述apd升压电路关闭；或，

所述处理器通过所述电流镜像电路的钳位控制管脚，控制所述电流镜像电路停止输出apd电压给所述apd。

优选的，所述通过所述apd升压电路的使能功能管脚控制所述apd升压电路关闭之后，还包括：

所述处理器在每预定时间间隔内打开所述apd升压电路，同时检测所述处理器输入端的所述输入电平，如果所述处理器输入端的所述输入电平大于预设阈值的数量超过预定比例，通过所述apd升压电路的使能功能管脚控制所述apd升压电路关闭；

或，如果所述处理器输入端的所述输入电平大于预设阈值的数量没有超过预定比例，则通过所述apd升压电路的使能功能管脚控制所述apd升压电路开启。

优选的，所述处理器通过所述电流镜像电路的钳位控制管脚，控制所述电流镜像电路停止输出apd电压给所述apd之后，还包括：

所述处理器在每预定时间间隔内打开所述电流镜像电路，同时检测所述处理器输入端的所述输入电平，如果所述处理器输入端的所述输入电平大于预设阈值的数量超过预定比例，通过所述电流镜像电路的钳位控制管脚控制所述电流镜像电路停止输出apd电压给所述apd；

或，如果所述处理器输入端的所述输入电平大于预设阈值的数量没有超过预定比例，则通过所述电流镜像电路的钳位控制管脚控制所述电流镜像电路输出apd电压给所述apd。

总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有如下有益效果：本发明实施例提供了一种光模块apd保护装置，利用电流镜像电路将apd监控电流输入到比较器的第一输入端，利用处理器在比较器的第二输入端设置apd电流阈值，如果apd监控电流大于apd电流阈值,则比较器触发处理器进行apd保护，即关闭apd升压电路或控制电流镜像电路停止输出apd电压给apd，本发明实施例提供的光模块apd保护装置可以防止apd因为电流过大而烧毁，且成本便宜，不局限于电流镜像电路的个体差异和监控范围。本发明还提供了一种光模块apd保护方法，可以实现对apd保护防止因为电流过大烧毁；进一步的，可以在处理器的输入端电平恢复正常时将apd电压重新输入给apd,实现apd恢复到正常工作状态。

【附图说明】

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种光模块apd保护装置的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的另一种光模块apd保护装置的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的又一种光模块apd保护装置的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种光模块apd保护方法的流程示意图。

【具体实施方式】

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

在本发明的描述中，术语“内”、“外”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明而不是要求本发明必须以特定的方位构造和操作，因此不应当理解为对本发明的限制。

此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

实施例一:

本发明实施例一提供了一种光模块apd保护装置，如图1所示，包括：apd升压电路10、电流镜像电路20、比较器30和处理器40；

所述apd升压电路10的输出端连接所述电流镜像电路20的输入端，所述电流镜像电路20的输出端分别连接apd的输入端和所述比较器30的第一输入端，所述比较器30的输出端连接所述处理器40的输入端，所述处理器40的输出端分别连接所述apd升压电路10、所述电流镜像电路20和所述比较器30的第二输入端；

其中，所述电流镜像电路20用于向所述比较器30的第一输入端输入apd监控电流，所述处理器40用于在所述比较器30第二输入端设置apd电流阈值，如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，则所述比较器30触发所述处理器40控制所述apd升压电路10关闭，或控制所述电流镜像电路20停止输出apd电压给所述apd。

本发明实施例提供了一种光模块apd保护装置，利用电流镜像电路将apd监控电流输入到比较器的第一输入端，利用处理器在比较器的第二输入端设置apd电流阈值，如果apd监控电流大于apd电流阈值,则比较器触发处理器进行apd保护，即关闭apd升压电路或控制电流镜像电路停止输出apd电压给apd，本发明实施例提供的光模块apd保护装置可以防止apd因为电流过大而烧毁，且成本便宜，不增加电路布板难度，不局限于电流镜像电路的个体差异和监控范围。

结合本发明实施例一，参阅图1，对光模块apd保护装置的结构进行详细说明。apd升压电路10的输出端连接电流镜像电路20的输入端，电流镜像电路20的输出端分别连接apd，以及比较器30的第一输入端(即图1中的a端)。apd升压电路10用于将3.3v电压倍压到apd所需要的电压；电流镜像电路20用于监控提供给apd的apd监控电流，同时将apd监控电流输入到比较器30的第一输入端a端，电流镜像电路20还用于接收的信号强度指示rssi的监控。

比较器30的输出端连接处理器40的输入端，比较器30的输出端和处理器40的模数转换管脚adc管脚连接；处理器40的输出端分别连接apd升压电路10、电流镜像电路20和比较器30的第二输入端。具体的，处理器40第一输出端连接apd升压电路10的使能功能管脚(即图1中所示的apd_en管脚)，用于控制apd升压电路10的关闭或开启,例如，apd升压电路10使用dc-dc升压电路时，dc-dc升压电路会有一个apd_en管脚，当apd_en管脚输入开启enable电平时，dc-dc升压电路会正常工作，正常输出apd电压；当apd_en管脚输入关闭disable电平时，dc-dc升压电路将不会正常工作，不输出apd电压。处理器40的第二输出端连接apd升压电路10的电压设置管脚(即图1中所示的apd_dac管脚)，用于设置apd升压电路10输出apd所需要的电压。处理器40的第三输出端连接电流镜像电路20的钳位控制管脚(即图1中所示的clamp管脚)，用于控制电流镜像电路20输出或停止输出apd电压给所述apd，例如，通过clamp管脚控制输出控制信号控制电流镜像电路20输出或停止输出apd电压给apd。处理器40的第四输出端连接比较器30的第二输入端，用于在比较器30第二输入端设置apd电流阈值，例如，处理器40的第四输出端连接比较器30的第二输入端的apd大光阈值设置管脚(即图1中所示的safe_dac管脚，同时也是图1中所示的b端)，在safe_dac管脚设置apd电流阈值。处理器40的型号可选的为siliconlabs的laserbee、美信4835或美信4830。

结合本发明实施例一，参阅图1，所述光模块apd保护装置还包括采样保持电路50，采样保持电路50与电流镜像电路20的输出端连接，用于接收的信号强度指示rssi采样，图1所示的电流镜像电路20具有两路镜像电流输出，rssi1用于小光段的监控，rssi2用于大光段的监控，此时电流镜像电路20的型号可选的为美信ds1842或ds3923。如图2所示，电流镜像电路20具有一路镜像电流输出，此时电流镜像电路20的型号可选的为美信ds3920。图1和图2所示的两路镜像输出和一路镜像输出的差别主要在于，两路镜像电流输出可以更好的使用大光段的采样值，使其采样值在模数转换器adc的采样能力范围内，一路镜像电流输出由于需要满足从大光到小光(-5dbm至-34dbm)这整个区间的范围，会有可能工作在模数转换器adc的饱和区，而采用的采样保持电路50的适用范围有限。

结合本发明实施例一，参阅图3，在比较器30第二输入端和输出端之间设置有电阻r2,比较器30和电阻r2组成迟滞比较器，用于防止所述迟滞比较器的输出电压来回跳动。比较器30的型号为通用的快速运算放大器即可，例如型号可选的为sgm8605-1。

结合本发明实施例一，以图1所示的光模块apd保护装置为例，对光模块apd保护装置的工作原理进行说明。apd升压电路10将apd电压通过电流镜像电路20提供给apd,当apd收到光后，电流镜像电路20会镜像两路电流输出，第一路为rssi1，用于小光段的监控，第二路为rssi2，用于大光段的监控。第二路rssi2输入到比较器30的第一输入端(即图1中的a端)，为电流镜像电路20提供到比较器30的a端的apd监控电流，同时处理器40的第四输出端在比较器30的第二输入端(即图1中的b端)设置apd电流阈值。当apd监控电流的值高于apd电流阈值时，比较器30触发处理器40控制apd升压电路10关闭，或控制电流镜像电路20停止输出apd电压给apd。

具体的，比较器30输出触发信号给处理器40的输入端(即图1中的c端)，所述触发信号是指比较器30输出的一个电平信号，所述电平信号输入到处理器40的c端，处理器40通过获取c端有上升沿，即表示apd上的电流过大，此时表示apd收到了大于所需要的大光，即会进入apd保护程序。

所述apd保护程序包括如下方式：

方式一：处理器40一旦获取到c端有上升沿，即锁存c端的状态到高电平，并通过处理器40第一输出端输出关闭信号给apd升压电路10的使能功能管脚apd_en,控制apd升压电路10的关闭，而禁止apd工作。在此之后，处理器40将不再监控c端的电平。通过寄存器复位，或对光模块apd保护装置重新上电，可以在需要时恢复对c端电平的采样，即采用手动恢复的方式恢复对c端电平的采样。之后可以重复上述判断循环，即：如果再次获取到c端有上升沿，则再次锁存c端状态到高电平，关闭apd升压电路10，禁止apd工作；在需要恢复对c端电平的采样时，再通过寄存器复位，或对光模块apd保护装置重新上电。

方式二：处理器40一旦获取到c端有上升沿，即锁存c端的状态到高电平，并通过处理器40第三输出端输出停止输出信号给电流镜像电路20的钳位控制管脚clamp,使电流镜像电路20禁止apd电压输出给apd。在此之后，处理器40将不再监控c端的电平。通过寄存器复位，或对光模块apd保护装置重新上电，可以在需要时恢复对c端电平的采样，即采用手动恢复的方式恢复对c端电平的采样。之后可以重复上述判断循环，即：如果再次获取到c端有上升沿，则再次锁存c端状态到高电平，使电流镜像电路20禁止apd电压输出给apd；在需要恢复对c端电平的采样时，再通过寄存器复位，或对光模块apd保护装置重新上电。

上述方式一和方式二是通过锁存处理器40的c端状态，即处理器40的输入端状态，然后对光模块apd保护装置进行手动恢复，能够实现快速响应的保护好apd。

方式三，处理器40一旦获取到c端有上升沿，多次采样处理器40的c端的输入电平，如果所述输入电平大于预设阈值的数量超过预定比例，通过处理器40第一输出端输出关闭信号给apd升压电路10的使能功能管脚apd_en,控制apd升压电路10的关闭，而禁止apd工作。在一些实施例中，处理器40对处理器40的c端输入电平的采样频率是动态调整的，根据输入电平的大小调整采样频率，输入电平越大采样频率越高，输入电平越小采样频率越低。其中，预设阈值是一个临界值，apd正常工作时在该预设阈值范围内不会发生烧毁，超出预设阈值后apd上的电流过大会导致apd烧毁。在一些实施例中，预定比例可选的设置为50％，如果输入电平大于预设阈值的数量占采样总数量的50％以上，例如输入电平10次中有6次或6次以上大于预设阈值，表明输入到处理器c端的是稳定的高电平，然后进入apd保护模式。在此之后，处理器40在每预定时间间隔内，打开apd升压电路10，同时检测处理器40的c端的输入电平是否仍然是稳定的高电平，即检测处理器40的c端的输入电平大于预设阈值的数量是否超过预定比例，如果是超过预定比例，则通过apd升压电路10的使能功能管脚apd_en控制所述apd升压电路10关闭；如果没有超过预定比例，表明处理器40的c端的电平恢复正常，则恢复apd升压电路10开启，使光模块apd保护装置恢复到正常工作状态。

方式四，处理器40一旦获取到c端有上升沿，多次采样处理器40的c端的输入电平，如果所述输入电平大于预设阈值的数量超过预定比例，通过处理器40第三输出端输出停止输出信号给电流镜像电路20的钳位控制管脚clamp,使电流镜像电路20禁止apd电压输出给apd。在一些实施例中，处理器40对处理器40的c端输入电平的采样频率是动态调整的，根据输入电平的大小调整采样频率，输入电平越大采样频率越高，输入电平越小采样频率越低。其中，预设阈值是一个临界值，apd正常工作时在该预设阈值范围内不会发生烧毁，超出预设阈值后apd上的电流过大会导致apd烧毁。在一些实施例中，预定比例可选的设置为50％，如果输入电平大于预设阈值的数量占采样总数量的50％以上，例如输入电平10次中有6次或6次以上大于预设阈值，表明输入到处理器c端的是稳定的高电平，然后进入apd保护模式。在此之后，处理器40在每预定时间间隔内，打开电流镜像电路20输出apd电压给apd,同时检测处理器40的c端的输入电平是否仍然是稳定的高电平，即检测处理器40的c端的输入电平大于预设阈值的数量是否超过预定比例，如果是超过预定比例，则再次通过处理器40第三输出端输出停止输出信号给电流镜像电路20的钳位控制管脚clamp，使电流镜像电路20禁止apd电压输出给apd；如果没有超过预定比例，则表明处理器40的c端的电平恢复正常，则恢复电流镜像电路20输出apd电压给apd，使光模块apd保护装置恢复到正常工作状态。

上述方式三和方式四是通过多次自动采样处理器40的c端状态，然后判断是否进行apd保护模式，且均能够实现自动恢复光模块apd保护装置的工作，不过响应速度比较慢。

实施例二:

本发明实施例二提供了一种光模块apd保护方法，如图4所示，所述光模块apd保护方法应用于本发明实施例一任一所述的光模块apd保护装置，包括以下步骤：

步骤s100:接收输入比较器第一输入端的apd监控电流；

在本步骤中，apd监控电流由电流镜像电路向比较器的第一输入端输入。

步骤s200:将所述apd监控电流和设置在比较器第二输入端的apd电流阈值进行比较；

在本步骤中，apd电流阈值由处理器在比较器第二输入端设置。

步骤s300:如果所述apd监控电流大于所述apd电流阈值，则所述比较器触发所述处理器控制所述apd升压电路关闭，或控制所述电流镜像电路停止输出apd电压给所述apd。

在本步骤中，如果apd监控电流大于apd电流阈值，比较器输出控制信号给处理器的输入端，所述控制信号是指比较器输出的一个电平信号，所述电平信号输入到处理器的输入端，处理器的输入端获取到有上升沿，即表示apd上的电流过大，此时表示apd收到了大于所需要的大光，则该光模块apd保护装置进入apd保护程序。

所述apd保护程序包括如下方式：

方式一：处理器输入端一旦获取到有上升沿，即锁存处理器输入端的状态到高电平，并通过处理器第一输出端输出关闭信号给apd升压电路的使能功能管脚apd_en,控制apd升压电路的关闭，而禁止apd工作。在此之后，处理器将不再监控处理器输入端的电平。通过寄存器复位，或对光模块apd保护装置重新上电，可以在需要时恢复对处理器输入端电平的采样，即采用手动恢复的方式恢复对处理器输入端电平的采样。之后可以重复上述判断循环，即：如果再次获取到处理器输入端有上升沿，则再次锁存处理器输入端状态到高电平，关闭apd升压电路，禁止apd工作；在需要恢复对处理器输入端电平的采样时，再通过寄存器复位，或对光模块apd保护装置重新上电。

方式二：处理器输入端一旦获取到有上升沿，即锁存处理器输入端的状态到高电平，并通过处理器第三输出端输出停止输出信号给电流镜像电路的钳位控制管脚clamp,使电流镜像电路禁止apd电压输出给apd。在此之后，处理器将不再监控处理器输入端的电平。通过寄存器复位，或对光模块apd保护装置重新上电，可以在需要时恢复对处理器输入端电平的采样，即采用手动恢复的方式恢复对处理器输入端电平的采样。之后可以重复上述判断循环，即：如果再次获取到处理器输入端有上升沿，则再次锁存处理器输入端状态到高电平，使电流镜像电路禁止apd电压输出给apd；在需要恢复对处理器输入端电平的采样时，再通过寄存器复位，或对光模块apd保护装置重新上电。

上述方式一和方式二是通过锁存处理器输入端的状态，对光模块apd保护装置进行手动恢复，能够实现快速响应的保护好apd。

方式三，处理器输入端一旦获取到有上升沿，多次采样处理器输入端的输入电平，如果所述输入电平大于预设阈值的数量超过预定比例，通过处理器第一输出端输出关闭信号给apd升压电路的使能功能管脚apd_en,控制apd升压电路的关闭，而禁止apd工作。在一些实施例中，处理器对处理器输入端输入电平的采样频率是动态调整的，根据输入电平的大小调整采样频率，输入电平越大采样频率越高，输入电平越小采样频率越低。其中，预设阈值是一个临界值，apd正常工作时在该预设阈值范围内不会发生烧毁，超出预设阈值后apd上的电流过大会导致apd烧毁。在一些实施例中，预定比例可选的设置为50％，如果输入电平大于预设阈值的数量占采样总数量的50％以上，例如输入电平10次中有6次或6次以上大于预设阈值，表明输入到处理器输入端的是稳定的高电平，然后进入apd保护模式。在此之后，处理器在每预定时间间隔内，打开apd升压电路，同时检测处理器输入端的输入电平是否仍然是稳定的高电平，即检测处理器输入端的输入电平大于预设阈值的数量是否超过预定比例，如果是超过预定比例，则通过apd升压电路的使能功能管脚apd_en控制所述apd升压电路关闭；如果没有超过预定比例，表明处理器输入端的电平恢复正常，则恢复apd升压电路开启，使光模块apd保护装置恢复到正常工作状态。

方式四，处理器输入端一旦获取到有上升沿，多次采样处理器输入端的输入电平，如果所述输入电平大于预设阈值的数量超过预定比例，通过处理器第三输出端输出停止输出信号给电流镜像电路的钳位控制管脚clamp,使电流镜像电路禁止apd电压输出给apd。在一些实施例中，处理器对处理器输入端输入电平的采样频率是动态调整的，根据输入电平的大小调整采样频率，输入电平越大采样频率越高，输入电平越小采样频率越低。其中，预设阈值是一个临界值，apd正常工作时在该预设阈值范围内不会发生烧毁，超出预设阈值后apd上的电流过大会导致apd烧毁。在一些实施例中，预定比例可选的设置为50％，如果输入电平大于预设阈值的数量占采样总数量的50％以上，例如输入电平10次中有6次或6次以上大于预设阈值，表明输入到处理器输入端的是稳定的高电平，然后进入apd保护模式。在此之后，处理器在每预定时间间隔内，打开电流镜像电路输出apd电压给apd,同时检测处理器输入端的输入电平是否仍然是稳定的高电平，即检测处理器输入端的输入电平大于预设阈值的数量是否超过预定比例，如果是超过预定比例，则再次通过处理器第三输出端输出停止输出信号给电流镜像电路的钳位控制管脚clamp，使电流镜像电路禁止apd电压输出给apd；如果没有超过预定比例，则表明处理器输入端的电平恢复正常，则恢复电流镜像电路输出apd电压给apd，使光模块apd保护装置恢复到正常工作状态。

上述方式三和方式四是通过多次自动采样处理器40的c端状态，然后判断是否进行apd保护模式，且均能够实现自动恢复光模块apd保护装置的工作，不过响应速度比较慢。

本发明实施例二提供的光模块apd保护方法，可以实现对apd保护，防止因为电流过大烧毁；进一步的，可以在处理器的输入端电平恢复正常时将apd电压重新输入给apd,实现apd恢复到正常工作状态。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。